เนื้อหาใน
Memoir
ฉบับนี้นำลง
blog
เพียงบางส่วน
โดยเป็นตอนต่อจากฉบับเมื่อวาน
๔.
ความต่อเนื่องของตัวแปร
x
กับการวาดกราฟ
การนำเสนอความสัมพันธ์ระหว่างตัวแปรอิสระ
x
กับตัวแปรตาม
y
ด้วยกราฟนั้นกระทำได้หลายรูปแบบ
เงื่อนไขหนึ่งที่เป็นตัวกำหนดว่าควรใช้กราฟรูปแบบไหนได้แก่ความต่อเนื่องของข้อมูล
ในกรณีที่ตัวแปรอิสระ x
เป็นข้อมูลที่มีความต่อเนื่อง
ตัวแปรตาม y
ก็มักจะมีความต่อเนื่องตามไปด้วย
ในกรณีเช่นนี้เราสามารถแสดงกราฟในรูปของพิกัดจุด
(x,y)
และมีการลากเส้นเชื่อมจุดข้อมูลต่าง
ๆ เข้าด้วยกันตามลำดับตัวแปรอิสระ
x
ได้
ในกรณีที่ตัวแปรอิสระไม่มีความต่อเนื่อง
เช่นการเปรียบเทียบคะแนนเฉลี่ยผลการสอบระหว่างโรงเรียน
ชื่อโรงเรียนจะเป็นแกน x
ในขณะที่คะแนนเฉลี่ยจะเป็นแกน
y
ในกรณีเช่นนี้ตัวแปรอิสระ
(ชื่อโรงเรียน)
ไม่มีความต่อเนื่อง
และไม่มีลำดับการเรียง
(กล่าวคือเราจะเรียงอย่างไรก็ได้ตามความต้องการของเรา)
ข้อมูลเช่นนี้กราฟที่เหมาะสมกว่าคือกราฟแท่ง
และไม่ควรมีการลากเส้นเชื่อมระหว่างจุดข้อมูล
รูปที่
๑ เป็นการเปรียบเทียบปริมาณแก๊สคาร์บอนมอนออกไซด์และไนโตรเจนมอนออกไซด์ที่ได้จากการเผาไหม้ถ่านไม้ในเตาชนิดต่าง
ๆ และเผาไหม้ถ่านไม้ต่างชนิดกัน
ก็ขอให้ลองพิจารณาเอาเองก็แล้วกัน
รูปที่ ๑ กราฟเปรียบเทียบปริมาณคาร์บอนมอนออกไซด์ (CO) และไนโตรเจนมอนออกไซด์ (NO) ที่เกิดขึ้นจากการเผา (บน) ถ่านไม้ในเตาแบบต่าง ๆ และ (ล่าง) ถ่านไม้ต่างชนิดกัน
รูปที่ ๑ กราฟเปรียบเทียบปริมาณคาร์บอนมอนออกไซด์ (CO) และไนโตรเจนมอนออกไซด์ (NO) ที่เกิดขึ้นจากการเผา (บน) ถ่านไม้ในเตาแบบต่าง ๆ และ (ล่าง) ถ่านไม้ต่างชนิดกัน
๕.
พีคหรือ
noise
ของ
base
line
สัญญาณที่ส่งออกมาจากตัวตรวจวัดหลากหลายชนิดนั้นจะไม่เป็นสัญญาณที่เรียบนิ่ง
(คือค่าไม่มีการเปลี่ยนแปลง)
แต่จะมีการเต้นแกว่งไปมาอยู่รอบค่าเฉลี่ยค่าหนึ่ง
ตรงนี้ก็คือ noise
หรือสัญญาณรบกวน
ขนาดของการเต้นแกว่งไปมาเรียกว่าขนาดของ
noise
ความถี่ของ
noise
จะขึ้นอยู่กับว่าการอ่านข้อมูลนั้นแต่ละตำแหน่ง
x
ห่างกันเท่าใด
(เช่น
x
อาจเป็น
มุม หรือความยาวคลื่น)
ส่วนขนาดของ
noise
ขึ้นอยู่กับว่าเราใช้เวลาวัดค่า
y
ณ
ตำแหน่ง x
นั้นนานเท่าใดหรือวัดซ้ำกี่ครั้ง
ตัวอย่างหนึ่งที่แลปของเรามีก็คือเครื่อง
x-ray
diffraction (XRD)
เครื่องเก่านั้นจะสแกนการวัดจากมุมเริ่มต้นไปจนถึงมุมสิ้นสุดแล้วก็กลับมาเริ่มสแกนการวัดจากมุมเริ่มต้นใหม่อีกครั้ง
ซึ่งจะพบว่าเมื่อทำซ้ำไปเรื่อย
ๆ ขนาดของ noise
จะลดลงจนถึงระดับหนึ่งและไม่ลดลงไปอีก
และจำนวนรอบการวัดซ้ำนี้จะเป็นตัวกำหนดว่าแต่ละตัวอย่างนั้นควรต้องทำการสแกนกี่รอบ
ส่วนเครื่องปัจจุบันที่ใช้อยู่นั้นจะสแกนรอบเดียวจากมุมเริ่มต้นไปยังมุมสิ้นสุด
และจะใช้การตั้งเวลาอ่านค่าที่ตำแหน่งมุมต่าง
ๆ ถ้าต้องการลดขนาด noise
ให้เล็กลง
ก็ต้องตั้งค่าให้เครื่องอ่านค่าที่แต่ละตำแหน่งมุมนั้นนานมากขึ้น
ในกรณีที่สัญญาณของปรากฏการณ์ที่มองหาอยู่นั้นแรงมากเมื่อเทียบกับขนาดของ
noise
การอ่านผลมักจะไม่มีปัญหาอะไร
ที่มีปัญหามากกว่าเห็นจะได้แก่เมื่อสัญญาณของปรากฏการณ์ที่มองหาอยู่นั้นมีขนาดใกล้เคียงกับขนาดของ
noise
ซึ่งตรงนี้ต้องใช้ความระมัดระวังอย่างมากในการแปลผล
ในความเห็นส่วนตัวแล้วถ้าสัญญาณนั้นไม่ชัดเจนก็ไม่ควรที่จะแปลผลเข้าข้างตัวเอง
(เพราะจะทำให้เกิดความเสียหายต่อผู้ที่นำผลงานวิจัยนั้นไปใช้ต่อได้)
เรื่องการอ่านสัญญาณที่มีความแรงใกล้เคียงกับขนาดของ
noise
นั้นเคยเล่าไว้แล้วในMemoir
ปีที่
๖ ฉบับที่ ๖๖๖ วันศุกร์ที่
๑๓ กันยายน ๒๕๕๖ เรื่อง "ค่า signalto noise ratio ที่ต่ำที่สุด"
รูปที่
๒ ข้างล่างเป็นกราฟ XRD
เปรียบเทียบของสารตระกูล
molecular
sieve รูปนี้แสดงให้เห็นขนาดของ
noise
ที่ชัดเจน
(ที่เห็น
base
line เป็นปื้นดำ
ๆ ไม่เรียบ)
ผลการวิเคราะห์นี้แสดงให้เห็นว่าค่าอัตราส่วน
signao
to noise ratio นั้นต่ำมาก
(ประมาณ
2
หรือต่ำกว่า)
ยิ่งต้องทำให้การแปลผลต้องใช้ความระมัดระวังมากขึ้นไปอีก
ในกรณีเช่นนี้การแปลผลเชิงคุณภาพอาจจะพอทำได้
(หรือตั้งข้อสงสัยได้)
แต่ไม่ควรที่จะทำการแปรผลเชิงปริมาณ
จุดที่อยากให้ลองสังเกตและพิจารณาก็คือตำแหน่งที่ระบุว่าเป็นพีคตรงลูกศร
1
และ
2
ชี้
รูปที่
๒ ตำแหน่ง (x)
ตรงลูกศรสีแดงชี้ถูกระบุว่าเป็น
"พีค"
๖.
"มีอยู่"
กับ
"มีอยู่ในโครงสร้าง"
เครื่องมือวัดบางชนิดนั้นวัดการมีอยู่ของอะตอมหรือไอออนในตัวอย่างที่ทำการวิเคราะห์
แต่ไม่ได้ระบุว่าอะตอมหรือไอออนนั้นมีการเชื่อมต่อกับอะตอมอื่นอย่างไรในตัวอย่างที่ทำการวิเคราะห์
(กล่าวอีกนัยหนึ่งคือไม่ได้บอกว่าอยู่ในโครงสร้างส่วนใดของตัวอย่างนั้น)
ตัวอย่างของอุปกรณ์วัดเหล่านี้ได้แก่
Electron
Spin Resonance (ESR)
ที่วัดการมีอยู่ของโมเลกุลหรือไอออนที่มีอิเล็กตรอนไม่มีคู่
(unpaired
electron) X-ray Fluorescence (XRF) ที่วัดการมีอยู่ของธาตุต่าง
ๆ และเครื่อง Energy
Dispersive X-ray Spectroscopy (EDX)
ที่นำมาติดตั้งเข้ากับกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกวาด
(Scanning
Electron Microscope) ที่เรียกว่าระบบ
SEM-EDX
ก็บอกว่าตัวอย่างนั้นประกอบด้วยธาตุอะไรบ้าง
แต่ไม่ได้บอกว่าธาตุที่เห็นนั้นอยู่ในสารประกอบอะไรหรืออยู่ในโครงสร้างอย่างไร
การระบุว่าธาตุที่เห็นนั้นอยู่ในสารประกอบอะไรหรืออยู่ในโครงสร้างไหนนั้นจำเป็นต้องใช้เทคนิคอื่นหรือข้อมูลอื่นร่วมด้วย
รูปที่
๓ ข้างล่างเป็นผลจากการวิเคราะห์ตัวอย่างที่เป็น
nanoribbon
ด้วยเทคนิค
SEM-EDX
ตำแหน่งตรงลูกศรสีเขียวชี้ถูกระบุว่าเป็นสัญญาณของโลหะ
Na
ทำให้กล่าวได้ว่าตัวอย่างที่วิเคราะห์นั้นมีธาตุ
Na
เป็นองค์ประกอบ
และผลนี้ก็สรุปได้แค่นี้
ไม่สามารถบอกได้มากกว่านี้ว่าธาตุ
Na
ที่เห็นนั้นอยู่ในสารประกอบอะไร
รูปที่
๓ ผลจากการวิเคราะห์ตัวอย่างด้วยเทคนิค
SEM-EDX
กราฟ
EDX
ตรงตำแหน่งลูกศรสีเขียวชี้คือสัญญาณของธาตุ
Na
ในที่นี้บทความระบุว่าตัวอย่างมี
Na+
อยู่ในโครงสร้าง
nanoribbonที่เขาต้องการให้มี
๗.
ถ้าทำดุลมวลสารก็คงจะเห็นข้อผิดพลาด
H2-temperature
programmed reduction (H2-TPR)
เป็นเทคนิคหนึ่งที่ใช้ในการวิเคราะห์ความยากง่ายในการรีดิวซ์สารประกอบโลหะออกไซด์บนตัวรองรับให้กลายเป็นโลหะที่ทำหน้าที่เป็นตัวเร่งปฏิกิริยา
อุณหภูมิที่ต้องใช้ในการรีดิวซ์จะบ่งบอกถึงอันตรกิริยา
(interaction)
ระหว่างสารประกอบโลหะออกไซด์กับตัวรองรับ
และปริมาณไฮโดรเจนที่ใช้จะบ่งบอกถึงปริมาณสูงสุดที่เป็นไปได้ของโลหะที่สามารถทำหน้าที่เป็นตัวเร่งปฏิกิริยาได้
รายละเอียดเทคนิค
H2-TPR
เคยเล่าไว้แล้วใน
Memoir
ปีที่
๖ ฉบับที่ ๖๗๔ วันอาทิตย์ที่
๒๙ กันยายน ๒๕๕๖ เรื่อง
"Temperatureprogrammed reduction ด้วยไฮโดรเจน(H2-TPR)"
ข้อมูลที่นำมาแสดงในรูปที่
๔
เป็นปริมาณไฮโดรเจนที่ใช้ในการรีดิวซ์ตัวเร่งปฏิกิริยาที่ประกอบด้วยโลหะ
Ni
20t% และ
promoter
(Mn, La, Ce, K และ
Mg)
อีก
1
% ซึ่งบทความไม่ได้มีการระบุว่าเป็น
%
โดยอะไร
แต่ปรกติในงานด้านนี้ที่ใช้กันจะเป็น
wt%
1
โมลของ
NiO
หนัก
58.7
+16 = 74.7 กรัม
ดังนั้นถ้าคิดตามสัดส่วนนี้
ตัวเร่งปฏิกิริยา 1
กรัมก็จะประกอบด้วย
Ni
0.2 กรัมและ
O
อีก
0.043
กรัม
ในการดึง O
ออกจาก
NiO
ด้วย
H2
ในรูป
H2O
นั้น
จะใช้ H2
2 กรัมต่อ
O
16 กรัม
ดังนั้นปริมาณ H2
ที่ใช้ในการดึง
O
ออกมาจนหมด
0.043
กรัมคือ
0.005375
กรัม
หรือกล่าวอีกนัยหนึ่งคือ
H2
0.005375 กรัมสามารถรีดิวซ์สารประกอบ
NiO
0.2 กรัมให้กลายเป็นโลหะ
Ni
ได้สมบูรณ์
ในรูปที่
๔ คิดเฉลี่ยปริมาณ H2
ที่ใช้ที่
20000
ไมโครโมลต่อกรัมเทียบเท่ากับ
0.04
กรัม
ซึ่งไฮโดรเจนปริมาณนี้จะสามารถดึง
O
ออกจากสารประกอบ
NiO
ได้ถึง
"1.488
กรัม"
ซึ่งมากกว่าน้ำหนักของตัวอย่างเสียอีก
คำถามก็คือน้ำหนักที่เกินมานี้มาจากไหน
รูปที่
๔ ปริมาณไฮโดรเจนที่ใช้ในการรีดิวซ์สารประกอบ
NiO
ของตัวเร่งปฏิกิริยาต่าง
ๆ
สาเหตุของความผิดพลาดนี้เดาว่าเกิดจากการแปลผลกราฟ
H2-TPR
ที่มักมีปัญหาเรื่อง
base
line มีการเปลี่ยนแปลงตามอุณหภูมิและมีรูปร่างเหมือนเป็นพีค
ซึ่งถ้าไม่เข้าใจการทำงานของเครื่องและตรวจสอบว่าเส้น
base
line ที่แท้จริงแล้วอยู่ในแนวไหน
ก็จะทำให้มีการไปอ่านเอาสิ่งที่ดูเหมือนพีคที่เกิดจากการเคลื่อนตัวของ
base
line นั้นเป็นพีคปริมาณ
H2
ที่หายไปด้วย
และที่สำคัญก็คือพีคที่เกิดจากการเคลื่อนตัวของเส้น
base
line นี้มักจะมีขนาดใหญ่ด้วย
(ลองดูตัวอย่างใน
Memoir
ฉบับที่
๖๗๔ ที่กล่าวมาข้างต้นก็ได้)
การอ่านผลเช่นนี้มักพบเป็นประจำในการรายงานผล
H2-TPR
ตอน
๒ ของเรื่องนี้ก็คงต้องขอจบลงแค่นี้
อันที่จริงยังมีอีกหลายตัวอย่าง
แต่เห็นว่ามันซ้ำกับที่ได้กล่าวมาก็เลยไม่ยกมา
เว้นแต่ว่าถ้าไปพบกรณีแปลก
ๆ ที่ไม่ซ้ำกับที่เล่ามาในสองตอนนี้ก็อาจรวบรวมเขียนเป็นตอนที่
๓ อีกก็ได้
ไม่มีความคิดเห็น:
แสดงความคิดเห็น